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深圳某网友反映芯片测试不良,希望通过X-RAY射线检测找答案

近日,接到深圳某公司的一位工程师咨询,关于PCB板在做芯片性能测试时,产品总是时好时坏,或者测试了一段时间就不正常,想用看看是不是芯片哪里接触不良。

在了解到该情况后,我们也是比较积极的去跟踪这个事情,因为急他人之所急是对自己的肯定。该工程师发了三块样品过来,并说明有两块异常比较严重。

1.jpg先看检测后的第一块板,气泡空洞比例较大,电子行业人员应该清楚锡焊气泡空洞比例的技术要求,如果不了解的可以查看《》,这明显气泡占比太大了。

2.jpg

第二块板也是同样的道理,气泡空洞比例大。

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第三块气泡空洞比例就比较小了。

气泡空洞过大主要会给电路造成接触不良的影响,有的则是在使用一段时间后出现接触不良的现象。