2025年7月25日-7月27日，深圳市骅飞科技有限公司作为工业X射线智能检测技术领域的创新引领者，受邀参加了在南京隆重举办的第十九届中国半导体行业协会半导体分立器件年会暨2025年中国半导体器件技术创新及产业发展论坛。本届盛会汇聚了超过300家产业链上下游的领军企业、顶尖研究机构及权威行业专家，共同聚焦半导体器件技术的前沿发展趋势与产业化创新实践。

大会期间成功举办了9场极具前瞻性的特邀主题报告、18场深入洞察的大会邀请报告以及21场聚焦细分领域的分会专题报告，内容全面覆盖从全球半导体技术演进趋势到本土产业化落地实践的深度解读。作为专业的X射线智能检测解决方案提供商，骅飞科技积极参与各项重要议程，与国内外行业同行、上下游战略合作伙伴及顶尖科研院所进行了广泛而深入的技术交流与合作探讨。

围绕半导体器件缺陷检测、供应链质量管控、智能制造数字化升级等行业热点议题，骅飞科技与多家知名企业就X射线无损检测技术在芯片封装质量检测、器件内部结构缺陷识别、焊接质量精准评估等关键应用场景进行了深入的技术探讨与经验分享。特别是在功率器件、分立器件的精密检测领域，骅飞科技自主研发的高精度X射线成像技术及其智能化检测算法获得了与会专家学者的高度认可与一致好评。

作为一家成立于2018年的国家级高新技术企业，骅飞科技始终专注于工业X射线智能检测技术的前沿研发与产业化应用。公司以X射线成像检测技术为核心基础，以AI图像处理和深度学习算法为创新驱动力，成功构建了覆盖"硬件设备+软件算法+数据分析"的全栈式智能检测技术体系。凭借核心研发团队十年以上的行业深度经验积累，骅飞科技在半导体缺陷检测领域已建立起显著的技术领先优势与市场竞争力。

在本次技术论坛上，骅飞科技重点展示了其在半导体器件质量检测领域的最新技术创新成果，包括高分辨率X射线成像系统、基于深度学习的智能化缺陷识别算法以及全自动化检测数据分析平台等核心技术产品。这些先进技术能够精准检测半导体器件内部的微观缺陷，如空洞、裂纹、异物、分层等质量问题，为半导体制造企业提供了高效可靠的全方位质量保障解决方案。

面向未来，骅飞科技将持续加大研发创新投入，深耕工业X射线智能检测技术前沿领域，致力于为全球制造业企业提供更加高性能、高可靠性、高精度的无损检测整体解决方案。同时，公司将积极携手产业链各方合作伙伴，共同推动中国半导体检测技术的自主创新突破与产业化规模发展，为构建更加完善、先进的半导体产业质量保障技术体系贡献专业技术力量，助力中国半导体产业实现高质量跨越式发展。